应力双折射测量系统

• 型 号：WPA-200
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• 更新时间：2025-01-24
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应力双折射测量系统WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术使其成为*的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

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WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术，使其成为*的光学测量产品。 应力双折射测量系统在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

应力双折射测量系统WPA-200主要特点:

• 操作简单，测量速度可以快到3秒。

• 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。

• 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。

• 具有多种分析功能和测量结果的比较。

• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

• *很高的残余应力测量设备。

主要应用：

· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）

· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

· 有机材料（球晶、FishEve）

技术参数：